测量臂
OnyxAce扫描臂
Onyx SkylineAce Skyline
KreonZephyr III 50 可满足日益严苛的制造和精加工质量要求。
Zephyr III 50 是一款专为高质量数字化而设计的三维扫描仪，具有出色的分辨率和精度，适用于小几何形状。它的精度为 5 微米，可以捕捉零件的微小细节，而且比传统探头快得多。尽管精度很高，但它的速度却毫不逊色：高采集率使其能够快速移动，确保大幅提高生产率。Zephyr III 50 的分辨率高达 15 µm，可以处理最精细的 3D 细节。雕刻、孔、螺纹、边缘、肋和凹槽都是它的优势所在。
Zephyr III 50 以 Kreon 近 30 年的三维扫描仪与坐标测量机集成经验为后盾。通过迈特罗芝（Metrologic）或潘泰克（Pantec）控制器，它可以与市场上的各种坐标测量机结合使用。Metrolog X4 或Polyworks 软件用于控制其运动和分析测量数据。基于扫描数据的机器编程和模拟可以离线执行，因此生产设备可以始终保持正常运行。Zephyr III 50 通常与多方位测座一起使用，可以快速、轻松地扫描工件的所有表面。
无论何种应用或工件类型，Zephyr III 50 扫描仪都能应对最具挑战性的情况。由于采用了非接触式技术，因此在分析易碎和柔性工件时不会有破损或变形的风险。其蓝色激光可用于任何表面：金属或塑料、哑光或亮光、浅色或深色、光滑或有纹理。这样就无需对零件进行喷粉处理，从而进一步提高了生产率。
扫描仪的高精度意味着可以很有把握地生成彩色 CAD 对比图，或通过 GD&T 分析对零件进行彻底检查。
Zephyr III 50 3D 扫描仪用途广泛，可与多种机床配合使用：坐标测量机、测量臂、机器人和机床。公司可以投资购买一台Zephyr III 50，用于不同的机器，例如坐标测量机和 Kreon 测量臂。它专为工业环境而设计，在车间、生产线或测量实验室都同样适用。Zephyr III 50 配备温度补偿功能，无需预热即可立即使用。
在某些应用中，例如对准工件、测量深而窄的凹槽或分析透明表面时，探针可能会派上用场。与所有 Kreon 扫描仪一样，Zephyr III 50 通过直接安装在扫描仪下方的测头，可以在同一测量范围内同时进行扫描和探测。通过结合接触式和非接触式技术的优点，可以大大缩短分析工件的时间，同时保持相同的高质量测量。
Zephyr III 50 是专为精确性而设计的，它完善了以Zephyr III 150 为开端的Zephyr III 扫描仪系列，而 III 150 则是速度的代表。Zephyr III 产品系列的核心是先进的技术，这些技术提高了公司的生产力，有助于确保其未来的增长。
